АНАЛИТИЧЕСКИЕ И МЕРИТЕЛЬНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ НОВЫЕ ТЕХНОЛОГИИ КОМПЬЮТЕРНЫЕ СИСТЕМЫ
+7 (495) 987 3443 post@amintecs.ru

Каталог:

Многофункциональный дифрактометр Empyrean

Документация:
Empyrean.pdf
Дифрактометр Empyrean – флагманская модель компании PANalytical, являющийся многофункциональным прибором, предназначенным для решения широкого круга материаловедческих задач. Эксклюзивная линейка полупроводниковых детекторов обеспечивает проведение экспериментов в режиме переменной размерности, от точечного до двумерного, включая объёмную реконструкцию (режим компьютерной томографии). Технология PreFIX позволяет перестраивать конфигурацию дифрактометра без проведения юстировочных работ. Широкий набор оптических элементов, столиков для образцов, реакционных и термокамер превращает Empyrean в универсальную платформу, позволяющую реализовывать в рамках одного прибора огромное количество экспериментальных методик.

Основные приложения, реализованные на платформе Empyrean
  • Качественный фазовый анализ образцов с плоской или неровной поверхностью, тонких плёнок и образцов в стеклянных капиллярах
  • Количественный фазовый анализ
  • Рентгеноструктурный анализ образцов с плоской или неровной поверхностью, а также образцов в стеклянных капиллярах
  • Измерение в режиме на прохождение фольг и образцов, помещённых между фольгами
  • Эксперименты по рефлектометрии на тонких плёнках и материалах подложки
  • Измерение кривых качания в режиме дифрактометрии высокого разрешения, картирование обратного пространства для слоёв (в том числе эпитаксиальных) на монокристаллических подложках
  • Картирование ростовых пластин
  • Измерение дифракции на тонких плёнках в геометрии in-plane
  • Измерение остаточных напряжений на плоских образцах, объектах неправильной формы и тонких плёнках
  • Анализ текстуры на любых материалах с преимущественной ориентацией кристаллитов
  • Определение локальной структуры методом Pair Distribution Function (метод радиального распределения электронной плотности)
  • Анализ нанопорошков, нанокомпозитов и дисперсий методом малоуглового рассеяния
  • Компьютерная томография на небольших твёрдых объектах
  • Анализ небольших включений в твёрдых образцах, в том числе с регистрацией двумерной дифракционной картины
  • Анализ in situ превращений кристаллической структуры в изменяющихся условиях окружающей среды
  • Высокоскоростная рентгеновская дифракция для автоматизированного анализа большого количества образцов
  • Изучение кристаллизации в режиме on line
Технические характеристики
Механические характеристики Внешние габариты (Ш х Г х В, мм) 1400 х 1162 х 1947
Размеры проёма кабинета при открытых дверях (Ш х В, мм) 1360 х 1100
Вес (кг) 1050
Высоковольтный генератор Максимальная мощность (КВт) 4
Максимальное напряжение (КВ) 60
Рентгеновские трубки Диапазон напряжения (КВ) 15 - 60
Диапазон тока (мА) 5 - 60
Материал анода Cu, Co, Cr, Fe, Mo, Mn, Ag
Размер фокального пятна (LFF, мм) 0,4 х 12
Перевод из линейного фокуса в точечный Поворот (стандартная функция)
Гониометр Конфигурация Вертикальный, Θ-Θ или Kα1 геометрия
Радиус (мм) 240 (может быть изменён)
Диапазон углов по 2Θ (°) -111 - +168
Способ позиционирования Прямое позиционирование оптическими сенсорами (DOPS2)
Минимальный шаг по углу (°) 0,0001
Линейность по 2Θ во всём диапазоне углов (°) ± 0,01
Максимальная угловая скорость (°/с) 15
Оптические модули с системой крепления PreFIX Прямой пучок, линейный фокус
  • Программируемые и фиксированные щели, щели Соллера
  • Монохроматоры по Иоганссону
  • Параболоидные и эллипсоидные зеркала
  • Гибридные монохроматоры 2xGe(220) и 4xGe(220)
  • Монохроматоры высокого разрешения 4xGe(220) (в том числе асимметричный) и 4xGe(440)
Прямой пучок, точечный фокус
  • Перекрещенные щели (в том числе двойные)
  • Монокапилляры (диаметры 50 - 1000 мкм)
  • Поликапиллярные линзы (параллельная и фокусирующая)
  • Гибридные монохроматоры 2xGe(220) и 4xGe(220)
  • Монохроматоры высокого разрешения 4xGe(220) (в том числе асимметричный) и 4xGe(440)
Дифрагированный пучок
  • Набор приёмных и антирассеивающих щелей, в том числе программируемых для детекторов X’Celerator и PIXcel
  • Коллиматоры для формирования параллельного пучка (аппертуры 0,09°, 0,18°, 0,27°)
  • Кристаллы-анализаторы двух- и трёхкратного отражения
  • Параболоидные зеркала
  • Монохроматоры для всех детекторов, включая X’Celerator и PIXcel
  • Второй оптический путь дифрагированного луча
  • Штанга уменьшения радиуса гониометра (85 и 185 мм)
Столики с системой крепления PreFIX Столики с функцией вращения
  • Столик для работы в геометрии на отражение и на просвет (совместим с автозагрузчиком на 45 позиций)
  • Столик-держатель капилляров
  • Столик-держатель для микродифракции
  • Столик для компьютерной томографии
Многоосевые столики-держатели
  • Пятиосевой столик (χ,φ,X,Y,Z)
  • Трёхосевой столик (χ,φ,Z)
  • Трёхосевой столик (X,Y,Z)
  • Серия модульных комбинируемых столиков
Температурные приставки и реакционные камеры
  • Высоко- и низкотемпературные приставки Anton Paar, в том числе с контролем влажности
  • Реакционные камеры Anton Paar
  • Камера высокого давления Anton Paar
  • Температурные камеры и криостаты Oxford, в том числе для работы с капиллярами
  • Температурная камера с контролем влажности SMS для работы в геометрии на прохождение
Полупроводниковые двухкоординатные детекторы PIXcel3D и PIXcel3D 2x2 Размер матрицы в пикселях 256 х 256 (PIXcel3D), 512 х 512 (PIXcel3D 2x2)
Координатное разрешение (мкм) 55 х 55
Максимальная скорость счёта (имп./с) 1010
Уровень шума (имп./с) Менее 0,5
Управление энергетическим окном Двухуровневый дискриминатор для отсечения флуоресценции образца и белого излучения
Режимы работы Точечный (0D), линейный (1D), двумерный (2D), режим компьютерной томографии (3D)

+7 (495) 987 3443 post@amintecs.ru © 2010 - 2020 АМИНТЕКС Все права защищены